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표준정반 - KK STANDARD GRANITE
정밀석정반 : 직각정반 : 스트라이트엣지, 파라렐바 : 게이지스탠드 : 브이블록 (V-BLOCK) : 블럭정반 : 지그정반 : 주철정반

 
         
   


정밀지지구 (Gage Stand)

다이알게이지, 인디게이터, LVDT, 리니어게이지 등은 단독으로 사용이 불가능하다. 따라서 지지구나 마그네틱스탠드, 기계등에 부착하여 측정한다. 일반적으로 많이 사용되는 다이얼게이지스탠드는 상하로 조정을 쉽게 할 수 있는 나사산(THREADED) 타입과 나사산이 없는 SMOOTH 타입이다. 석재와 주철제 베이스를 주로 사용하며, 세라믹 베이스도 사용된다.

자사에서는 특별히 A급 자제만을 사용하여 제작함으로 외관 및 고경도, 내마모성, 내산성 우수합니다.
또한 고객의 용도에 따라서 다양한 사이즈 및 고정도 제품을 공급하고 있습니다.
다음에 설명되는 표준정반이외에도 고객의 원하시는 사양으로 주문제작합니다.

석제 KSC

석제 KTC

주철제 F1930

주철제 F1931

 

 

 

 

정밀스탠드

전자마이크로미터

전자프로브

 

 

 
   

 
 

정밀 게이지 스탠드 (Precision Gage Stand)

자사에서는 경제적인 가격으로 품질이 우수한 제품을 생산하고 있습니다.

게이지 스탠드와 더불어 센서(다이알게이지, LVDT, 변위센서)를 컴퓨터에 연결하여 검사성적서등 필요한 데이터를 자동생성하는 시스템 및 바로 확인가능한 디스플레이 장치을 생산, 공급하고 있습니다.

* 또한 고객의 용도에 따라서 다양한 사이즈 및 고정도 제품을 공급하고 있습니다. 필요한 규격이 없는 경우에는 자사로 문의 바랍니다.

 

 
 

게이지스탠드 - Smooth Gage Stand
기본타입으로서 기둥에 나사산이 없이 자유로이 움직이며,
쉽게 원하시는 측정이 가능합니다.

- 특별히 선택된 우수한 석재재질 사용
- DIN876 규정에 따라 연마됨
- 크롬도금된 기둥
- 평면도 2 um 이내의 고정도
- 다이얼게이지 생크 직경 8 mm
- 내마모성, 내산성이 우수

* 아래 사양이외에는 주문 제작합니다.

     

 

 

제품번호

사이즈 (mm)

무게 (Kg)

높이 (mm)

KSC-12614

260 X 140 X 50

10

200

KSC-13020

300 X 200 X 50

13

200

* 위 사양은 제품개선을 위하여 사전예고없이 변경될 수 있습니다.

 

 
 

게이지스탠드 - Smooth Gage Stand
기둥에 나사산이 있어 정밀 위치 조정이 가능하며,
쉽게 원하시는 측정이 가능합니다.

- 특별히 선택된 우수한 석재재질 사용
- DIN876 규정에 따라 연마됨
- 크롬도금된 기둥
- 평면도 2 um 이내의 고정도
- 다이얼게이지 생크 직경 8 mm
- 내마모성, 내산성이 우수

* 아래 사양이외에는 주문 제작합니다.

     

 

 

제품번호

사이즈 (mm)

무게 (Kg)

높이 (mm)

KTC-12614

260 X 140 X 50

13

200

KTC-13020

300 X 200 X 50

18

200

* 위 사양은 제품개선을 위하여 사전예고없이 변경될 수 있습니다.

 

 
 

주철제 게이지스탠드 - Smooth Gage Stand
기본타입으로서 기둥에 나사산이 없이 자유로이 움직이며,
쉽게 원하시는 측정이 가능합니다.

- 특별히 선택된 우수한 재질 사용
- DIN876 규정에 따라 연마됨
- 평면도 2 um 이내의 고정도
- 다이얼게이지 생크 직경 8 mm, 기둥직경 35 mm
- 내마모성, 내산성이 우수

* 아래 사양이외에는 주문 제작합니다.

     

 

 

제품번호

사이즈 (mm)

무게 (Kg)

높이 (mm)

FR-1930

100 X 100 X 25

10

230

FC-1930

  Dia. 100 X 25

13

230

* 위 사양은 제품개선을 위하여 사전예고없이 변경될 수 있습니다.

 
 

 

 
 

주철제 게이지스탠드 - Threaded Gage Stand
기둥에 나사산이 있어 정밀 위치 조정이 가능하며,
쉽게 원하시는 측정이 가능합니다.

- 특별히 선택된 우수한 재질 사용
- DIN876 규정에 따라 연마됨
- 평면도 2 um 이내의 고정도
- 다이얼게이지 생크 직경 8 mm, 기둥직경 35 mm
- 내마모성, 내산성이 우수

* 아래 사양이외에는 주문 제작합니다.

     

 

 

제품번호

사이즈 (mm)

무게 (Kg)

높이 (mm)

FR-1931

100 X 100 X 25

10

230

FC-1931

  Dia. 100 X 25

13

230

* 위 사양은 제품개선을 위하여 사전예고없이 변경될 수 있습니다.

 
 

 

 
 

정밀게이지 스탠드 - Precision Gage Stand

별도의 핸들로 정밀 조정이 상하로 가능한 정밀 스탠드입니다. 베이스는 정밀 석정반으로 비자성체이며 리니어게이지, 다이알게이지등의 연결로 측정데이타의 관리를 손쉽게 만듭니다.

* 아래 사양이외에는 주문 제작합니다.

 

제품번호 (Product No.)

F1921

측정범위 (Measuring Range)

0 ~ 160 mm

측정 면적 (Measuring Area)

150 X 250 mm

기둥직경 (Column Dianeter)

Dia. 35 mm

크로스암 직경 (Cross arm Diameter)

Dia. 20 mm

다이얼게이지 생크 (Dial Gage Shank)

Dia. 8 mm

* 위 사양은 제품개선을 위하여 사전 예고없이 변경될 수
* 있습니다.

 

 
 

   

- 자유로운 데이터 입출력
- 자동 전원 절전장치
- 어디서나 손쉬은 원점설정
- 공차설정기능
- MM/INCH 변환기능
- ABS/INC 변환기능
- 디지털 및 아날로그 표시

전자마이크로미터 - Portable Electronic Micrometer

이동이 가능한 마이크로미터로 어디서나 측정이 가능합니다. 측정데이터는 키입력 또는 FOOt 스위치의 입력으로 홀드 및 전송이 가능합니다.

 

제품번호 (Product No.)

MT220

표시범위 (Display Range)

± 2 mm

분해능 (Resolution)

0.1 um

제품치수 (Products Dimension)

90 X 150 X 40 mm

데이타출력 (Data Output)

RS232

전원 (Power)

3 AA 1.5V Battery
AC220V Adapter

컨넥터 (Input Jack)

DIN VDE57627

* 위 사양은 제품개선을 위하여 사전 예고없이 변경될 수
* 있습니다.

 

- 초정밀 전자프로브 (LVDT)
- 다양한 TIP 사용가능
- MT220과 연결사용
- 경제적인 사양

전자프로브 - Inductive Probes

4 mm의 범위를 측정이 가능한 전자프로브로서 2가지 타입의 선택이 가능합니다. 일반적인 KD-S4 타입과 진공형의 KD-S4V 타입이 공급됩니다. KD-S4V는 프로브의 측정헤드를 진공방식에 의하여 구동됩니다. 따라서, 상단에 진공연결이 가능한 에어유닛이 별도로 있으며 제품 사양은 KD-S4와 같습니다.

 

제품번호 (Product No.)

KD-S4, KD-S4V

사용범위 (Measuring Range)

± 2 mm

반복정밀도 (Repeatability)

0.1 um

이동범위 (Moving Stroke)

4.5 mm

가이드 (Guide System)

Ball Bearing

전선길이 (Cable Length)

2 m

프로브직경 (Probe Diameter)

Dia. 8 mm

* 위 사양은 제품개선을 위하여 사전 예고없이 변경될 수
* 있습니다.

 

 
 

다이얼 게이지를 이용한 측정은 피측정물의 크기, 형상 및 측정내용에 따라, 측정방법은 절대측정, 비교측정으로 볼수 있다.

   

절대측정

측정의 기준면에서의 길이를 다이얼 게이지의 눈금상에서 직접 측정하는 방법으로 다이얼 게이지의 측정범위 내의 치수에 한하여 측정이 가능하다. 따라서 절대측정(직접측정)을 할 때는 다이얼 게이지중 지시오차가 적은 것을 선택하여야 한다. 레버식 다이얼 게이지나 최소눈금 0.001㎜의 스핀들식 다이얼 게이지는 보통 측정범위가 1㎜ 이하이기 때문에 이것으로 직접 측정을 하는 경우는 거의 없다.

리니어게이지나 전기마이크로메터(LVDT)를 사용하면 쉽게 측정이 가능하다. 먼저 측정범위를 체크하여 적절한 센서를 선택한다. 또한 요구되는 정도범위안의 센서를 사용한다.

 

비교측정

측정물의 치수가 다이얼 게이지의 측정범위를 초과하거나 고정도의 측정을 필요로 할 때는 다이얼 게이지와 마스터 게이지(게이지 블록)를 함께 사용하여 마스터와 피측정물과의 치수 차를 다이얼 게이지로 비교하므로써 피측정물의 치수를 측정할 수 있다.

따라서 비교측정을 할 때는 반복성이 좋은 다이얼 게이지를 선택하여 인접오차가 적은 범위에서 기준점을 잡고 측정 하여야만 오차를 줄일 수 있다. 이 방식은 감도가 좋고 측정력이 약하며 피측정물을 측정자 밑에 넣을 때 무리가 적은 레버식 다이얼 게이지를 사용하거나 스핀들식의 경우 시핀들 올림장치를 부착하여 사용하여야만 정확한 측정을 할 수 있다.

비교측정은 정확한 치수를 알고 있는 마스터 게이지가 필요하고 측정시간이 많이 소요되나 비교측정의 특징을 알고 사용하면 정밀정확한 측정을 할 수 있다. 즉 다이얼 게이지의 지극히 작은 범위 내에서 측정을 하기 때문에 다이얼 게이지의 오차를 생각할 필요가 없고 단지 다이얼 게이지의 반복성 정도의 오차만이 측정에 포함된다. 또한 마스터와 피측정물의 재질이 동일한 경우 이들을 열평형시키면 온도에 의한 오차를 거의 줄일 수 있게 된다.

   

높이 및 깊이 측정

높이의 측정은 보통 지지기구를 사용하여 정반 위에서 게이지 블록과 비교하여 측정한다. 단차를 측정할 경우 이와 같은 방법으로 비교측정을 할 수 있으나 측정이 번거롭기 때문에 깊이측정을 할 때와 마찬가지로 다이얼 깊이 게이지를 사용하여 측정하면 편리하다.

두께측정

피측정물의 밑면이 평면인 경우 정밀 스탠드를 사용 하여 비교측정한다.

 

 

 
 

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